9031.41.00
德国 / 欧盟zum Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder zum Prüfen von Fotomasken und Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
原文（Deutsch）：zum Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder zum Prüfen von Fotomasken und Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
税率信息
EU MFN 税率
0%
增值税（VAT）
19%
反倾销税
无数据
EU 附加编码
无数据
计量单位
第一法定单位
--
第二法定单位
--
同品目相关编码
| HS 编码 | 产品名称 |
|---|---|
| 9031.10.00 | Auswuchtmaschinen |
| 9031.20.00 | Prüfstände |
| 9031.49.10 | Profilprojektoren |
| 9031.49.90 | Photoelektrische Sensoren |
| 9031.80.20 | Optischer Faserdetektor |
| 9031.80.80 | Induktiver Sensor, Verwendung: Industriemaschinen, Prinzip: Wirbelstromsignale senden und empfangen, die Verschiebungsänderung der mechanischen Welle dynamisch erfassen, um die Schwingungsänderung der Welle zu erfassen,Instrumente |
| 9031.90.00 | Sensorhalterung |
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数据来源于欧盟 TARIC 公开数据，仅供参考，实际以欧盟委员会与德国海关最新发布为准。