
IMS品牌历史
1984年第一代多通道轮廓测量系统1988年第二代多通道轮廓测量系统1995年第三代多通道轮廓测量系统1997年Edge Drop 带材边缘轮廓测量系统上市1984年第一代多通道轮廓测量系统1988年第二代多通道轮廓测量系统1995年第三代多通道轮廓测量系统1997年Edge Drop 带材边缘轮廓测量系统上市2001年TopPlan 带材平整度测量系统上市2002年IMSpect 涂层测量系统上市2008年开始开发 surcon 3D 表面检测2009年数据归档系统MEVInet-Q2的进一步开发2009年带控制单元的紧凑型 X 射线发生器上市2014年相机集群系统(CCS)上市